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SRG最新基準(zhǔn)測試報告: LTE芯片組性能差異巨大

--SRG利用思博倫的解決方案對8種LTE基帶芯片組的數(shù)據(jù)性能進(jìn)行測試

2013-02-25 08:41:14   作者:   來源:CTI論壇   評論:0  點擊:


  CTI論壇(ctiforum)2月25日消息(記者 凡易):Signals Research Group(SRG)日前宣布了對LTE芯片組最新基準(zhǔn)測試的結(jié)果。SRG是該行業(yè)中惟一的獨立數(shù)據(jù)性能研究機(jī)構(gòu),其測試報告得出的結(jié)論是,盡管所有的芯片組在理想網(wǎng)絡(luò)條件下的性能表現(xiàn)基本相當(dāng),但在更為真實且更具挑戰(zhàn)性的測試場景中,各芯片組的性能仍存在巨大的差異。

  利用Spirent 8100 LTE解決方案上基于實驗室的測試方法,SRG采集并分析了八種LTE基帶芯片組的數(shù)據(jù)性能,這些芯片組分別來自Altair Semiconductor, GCT, Intel, Nvidia, Qualcomm, Renesas Mobile, Samsung Electronics,  Sequans Communications.

  本輪最新測試標(biāo)志著SRG與思博倫通信在芯片組性能測試方面的第八次合作。8100 LTE解決方案被用于將所有的芯片組置于完全相同的網(wǎng)絡(luò)條件集合之下,并將每項測試自動重復(fù)多次,從而生成有統(tǒng)計學(xué)上有意義的客觀結(jié)果。此項研究中的一些關(guān)鍵亮點如下:

  • 來自三家不同供應(yīng)商的LTE芯片組共同獲得最高榮譽(yù),并且在所有芯片組中脫穎而出。
  • 在更具挑戰(zhàn)性的測試場景中,性能最高和性能最差的芯片組之間的差異頻頻超過20個百分點。
  • 在芯片組報告信道條件的方式(使用信道質(zhì)量指標(biāo) - CQI),以及如何利用MIMO的方法,包括開放環(huán)路和封閉環(huán)路,以及發(fā)送多樣性等方面,不同芯片組的供應(yīng)商很明顯持有不同的觀點。

  Signals Research Group公司CEO  Michael Thelander指出:“在最近的基準(zhǔn)測試研究中,有三家LTE芯片組在所有芯片組中脫穎而出。同時,在特定的測試場景中,所有的芯片組性能表現(xiàn)都不錯, 說明經(jīng)過一定的優(yōu)化他們都能有相當(dāng)?shù)男阅鼙憩F(xiàn)。但對那些未能在此次基準(zhǔn)測試中予以研究的方案來說,我們對其性能表現(xiàn)還存在不確定性。因為產(chǎn)品在真實環(huán)境下的表現(xiàn)和可以參加基準(zhǔn)測試研究的芯片性能還是存在很大的差異。

  這些測試在各類真實的網(wǎng)絡(luò)條件下對每種芯片組在應(yīng)用層的下行鏈路吞吐量和關(guān)鍵性能指標(biāo)進(jìn)行了測量。這些測試場景均基于3GPP技術(shù)報告(TR)的最新規(guī)格,包括各類靜態(tài)條件和符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的步行衰減和車輛衰減條件。在測試中使用了共計32種LTE測試場景。

  對LTE芯片組性能基準(zhǔn)測試的完整分析已經(jīng)編入SRG最新的報告中。該報告將于2月26日發(fā)表并通過www.signalsresearch.com提供。

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